北京清检检测技术集团有限公司欢迎您!
400-618-1976
服务项目
您当前位置:首页 >> 服务项目 >> 测试服务 >> 电镜类
联系方式

北京清检检测技术集团有限公司

电话:400-618-1976

邮箱:qingjiantest@tsing-qj.com

地址:北京市海淀区王庄路1号(清华大学东南、北临清华东路)清华同方大厦

原子力显微镜AFM

型号:NT-MDT Prima; Bruker Dimension Edge测试项目:a. 粉末/薄膜/块体/纤维样品表面三维形貌拍摄和粗糙度测定b. 纳米片厚度测定c. 生物样品构型更多测试要求请咨询客户经理。样品要求:1. 样品状态:可为粉末、块体、薄膜样品。2. 粉末样品:颗粒一般不超过5微米,提供20mg,若尺寸过大请提前咨询客户经理。3. 薄膜

400-618-1976 立即咨询

原子力显微镜AFM

型号:NT-MDT Prima; Bruker Dimension Edge

测试项目:

a. 粉末/薄膜/块体/纤维样品表面三维形貌拍摄和粗糙度测定

b. 纳米片厚度测定

c. 生物样品构型

更多测试要求请咨询客户经理。

 

样品要求:

1. 样品状态:可为粉末、块体、薄膜样品。

2. 粉末样品:颗粒一般不超过5微米,提供20mg,若尺寸过大请提前咨询客户经理。

3. 薄膜或块状样品尺寸要求:长宽0.5-3cm之间,厚度0.1-1cm之间,表面粗糙度不超过5um,一定要标明测试面!若尺寸过大请提前咨询客户经理。

 

常见问题及回答:

1、 为什么AFM测试样品颗粒或者表面粗糙度不能过大?

因为尺寸过大,会碰到仪器探针针尖,针尖易磨钝以及受污染,且磨损无法修复,污染则清洗困难。

 

2、 AFM拍摄不到自己想要的效果,表面形貌或粗糙度与自己预期不符合?

AFM拍摄也需要不断寻找合适的位置拍摄,同一样品不同拍摄部位表面形貌和粗糙度极有可能不一致,因为原子力显微镜成像范围较小,与拍摄样品表面是否均匀息息相关。

 

结果展示:

测试原始文件格式FLT格式或MDT格式可分别用Nanoscope analysis 和Nova 1138软件打开。


上一篇:扫描电子显微镜SEM
下一篇:没有了!

相关阅读

高分子材料质量鉴定

鉴定范围可提供塑料、橡胶、纤维、涂料、胶黏剂等高分子材料相关鉴定服务,对各种材料及材料制品质量分析、成分分析、结构分析、化学性能分析、同类性和同一性方面做出准确鉴定。在高分子材料领···

电池指令

项目介绍电池中可能含有铅、镉、汞、酸、碱等污染物质,当其任意丢弃在环境中,将会对人体及生态环境造成不同程度的危害。因此,电池中有害物质的限制,废旧电池回收处理和再生利用已经受到社会···

纳米压痕

介绍纳米压痕技术,也称深度敏感压痕技术,是最简单的测试材料力学性质的方法之一。它通过计算机程序控制载荷发生连续变化,实时测量压痕深度,由于施加的是超低载荷,监测传感器具有优于1nm···

可靠性测试

可靠性检测背景:产品在研制阶段早期,主要是通过实验来发现设计缺陷并加以改进,进而通过进一步的试验来发现新的问题。经验表明,70%左右的设计缺陷要靠对样机进行试验才能发现。试验不仅是···

火药爆炸事故鉴定

鉴定范围可提供烟花、爆竹、鞭炮在燃放、运输过程等各种火药爆炸事故的相关鉴定服务,对各种爆炸事故及爆炸伤害事故中的微量物证分析、事故原因分析等方面做出准确鉴定。在各种火药爆炸事故领域···

客户服务
免费回电
咨询电话
时间:8:00-18:00
电话:400-618-1976

售后电话
时间:8:00-18:00
电话:400-618-1976
免费咨询
预约售后
顶部